이 제품은 높이 보정이 아닌 팁의 선명도를 확인하기 위한 것입니다. AFM 팁이 마모되어 손상되어 특히 나노 스케일에서 흐릿한 선이 생길 수 있습니다. 예를 들어, 마모된 팁은 코발트 입자가 둥글지 않고 직사각형으로 보일 것입니다. 이 제품의 두 번째 특징은 현미경 전문가가 나노스케일로 내려갈 수 있도록 돕는 것입니다. 나노 규모의 특징을 균일하게 커버할 수 있기 때문에 무엇을 찾아야 하고 무엇을 기대해야 하는지 알 수 있습니다.

단일 층의 코발트 입자는 AFM 팁 특성 분석 및 기기 작동을 위한 우수하고 안정적인 기판을 제공합니다. 상단의 이미지는 표준에서 1nm(빨간 선 프로필)와 3nm(녹색 선 프로필)에서 높이 보정을 보여주어 날카로운 끝을 나타냅니다. 기질이나 Co 입자와 반응하는 화학 물질이 존재하지 않는 한 물에 사용할 수 있습니다.

Co 입자는 반구(방울)가 평평하며 반지름이 일반적으로 높이보다 큽니다. 입자 높이의 분포는 1nm에서 5nm 사이입니다. 측정된 너비는 팁의 크기에 따라 크게 달라지지만, 둥글습니다.

장착되지 않거나 장착된 5x5mm 실리콘 웨이퍼 칩, 12mm 스테인리스 스틸 금속 디스크에서 사용할 수 있습니다. 옹스트롬 해상도까지 팁 특성화를 쉽게 달성할 수 있습니다. 스캔 준비 완료 시험편.